Diverse assembleeleden hadden gisteren tijdens de openbare vergadering in De Nationale Assemblee (DNA) kritiek geleverd op de onregelmatigheden die geconstateerd zijn bij het uitvoeren van het e-ID-kaartproject (elektronische identiteitskaart). De oppositie maakt zich vooral zorgen over de veiligheid en gevoeligheid van de e-ID-kaart, waar er volgens haar geen controle op is.
Assembleelid Edward Belfort (ABOP) zei dat hij klachten heeft aangehoord van de binnenlandbewoners dat zij geen e-ID-kaart hebben ontvangen van de medewerkers van het Centraal Bureau voor Burgerzaken (CBB), nadat zij zich hadden aangemeld.
Belfort kreeg bijval van VHP-volksvertegenwoordiger Asiskumar Gajadien die ook dezelfde klachten heeft aangehoord.
DNA-lid Dew Sharman (VHP) gaf aan dat het proces om in aanmerking te komen voor een e-ID-kaart fraudegevoelig is. Hij maakte melding van vreemdelingen die binnen enkele dagen na te zijn gearriveerd over een e-ID-kaart kunnen beschikken. Hij wilde weten wat de regering zal doen om erop toe te zien dat de e-ID-kaart niet in handen komt van buitenlanders om zo de verkiezingen die in aantocht zijn, te beïnvloeden.
NPS-fractielid Patricia Etnel zei te willen weten hoe betrouwbaar en veilig de huidige e-ID-kaart is, die met een scanapparaat wordt gemaakt.
Assembleelid Amzad Abdoel (NDP) wilde van de minister van Binnenlandse Zaken (Biza), Mike Noersalim, weten hoe het komt dat een Chinees een e-ID heeft kunnen vervalsen. Dit bericht werd enkele weken geleden bekendgemaakt. Zowel de oppositie als coalitie deden een beroep op de regering om de veiligheid van de e-ID-kaart te waarborgen vooral in aanloop naar de verkiezingen in 2020.
Biza-minister Noersalim ging in op deze kwestie en ergerde zich aan de houding van de oppositie die volgens hem de uitleg die hij gaf niet wilde of kon begrijpen. De ID-kaartenwet is op 20 december 2018 met 28 algemene stemmen aangenomen door het parlement. Deze wet heeft als doel een betere identiteitsbeveiliging voor de burger mogelijk te maken middels de voorziening van biometrische en elektronische eigenschappen.
